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XRD，SEM和AFM測試沒有固定的序列。 1 XRD（X射線衍射）用于獲得材料的組成，材料內部的原子或分子的結構。 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種顯微觀察方法，可以直接使用樣品表面材料的材料特性進行顯微成像。
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